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    • LZ-990膜厚計(jì)
      LZ-990膜厚計(jì)

      產(chǎn)品介紹 LZ-990膜厚計(jì),操作簡(jiǎn)單,機(jī)身緊湊,LZ-990膜厚計(jì)具有高精度和自動(dòng)識(shí)別基底材料優(yōu)勢(shì)。LZ-990膜厚計(jì)即使斷電內(nèi)存數(shù)據(jù)也不會(huì)被清除

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    • 日本KETT測(cè)厚儀373系列
      日本KETT測(cè)厚儀373系列

      產(chǎn)品介紹 日本KETT測(cè)厚儀LZ-373測(cè)厚儀/日本KETT測(cè)厚儀LH-373/日本KETT測(cè)厚儀LE-373能測(cè)量平均值;日本KETT測(cè)厚儀使用筆式單點(diǎn)接觸恒壓探頭;日本KETT測(cè)厚儀可設(shè)置膜厚度的...

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    • HC-UMT85S超聲波測(cè)厚儀
      HC-UMT85S超聲波測(cè)厚儀

      產(chǎn)品介紹 HC-UMT85S超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度高,測(cè)量范圍大;HC-UMT85S超聲波測(cè)厚儀中英文雙語(yǔ)言版本; HC-UMT85S超聲波測(cè)厚儀內(nèi)置 7 種常用材料的聲速;HC-UMT85S超聲波測(cè)厚...

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    • HC-MT130 涂層測(cè)厚儀
      HC-MT130 涂層測(cè)厚儀

      產(chǎn)品介紹 MT130 涂層測(cè)厚儀一體式兩用測(cè)厚儀;HC-MT130涂層測(cè)厚儀A、采用合金一體化探頭;HC-MT130 涂層測(cè)厚儀操作簡(jiǎn)單,測(cè)試速度快;HC-MT130 涂層測(cè)厚儀超大液晶屏背光顯示

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    • 聲學(xué)成像儀FILR Si124
      聲學(xué)成像儀FILR Si124

      聲學(xué)成像儀FILR Si124是專業(yè)的聲源定位產(chǎn)品; 現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)氣體管道泄漏檢測(cè);HM-AP56聲學(xué)成像儀現(xiàn)場(chǎng)演示;HM-AP56聲學(xué)成像儀實(shí)時(shí)聲音可視化

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    • FLIR Si124聲學(xué)成像儀_FLIR聲學(xué)成像儀_FLIR Si124聲學(xué)成像儀
      FLIR Si124聲學(xué)成像儀_FLIR聲學(xué)成像儀_FLIR Si124聲學(xué)成像儀

      產(chǎn)品介紹 FLIR Si124是一款簡(jiǎn)單易用的聲學(xué)成像儀;Si124聲學(xué)成像儀內(nèi)置124個(gè)麥克風(fēng);FLIR聲學(xué)成像儀即時(shí)查看氣體管理泄露情況;FLIR聲學(xué)成像儀頻率范圍2 kHz至31 kHz

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    • ii900聲學(xué)成像儀_福祿克聲學(xué)成像儀_FLUKE ii900聲學(xué)成像儀
      ii900聲學(xué)成像儀_福祿克聲學(xué)成像儀_FLUKE ii900聲學(xué)成像儀

      產(chǎn)品介紹 ii900聲學(xué)成像儀利用超聲波圖像覆蓋在可見(jiàn)光圖像上;FLUKE ii900聲學(xué)成像儀借助全陣列麥克風(fēng)掃描較大范圍區(qū)域;FLUKE ii900聲學(xué)成像儀利用聲音通過(guò)麥克風(fēng)陣列來(lái)辨別產(chǎn)生聲音的...

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    • 日本AD超聲波測(cè)厚儀
      日本AD超聲波測(cè)厚儀

      日本AD超聲波測(cè)厚儀可測(cè)量大范圍的小厚度 搭載有掃描模式,根據(jù)不同用途 3種探頭可選,可測(cè)量涂層厚度(聲波回聲模式下,可除去涂裝或涂層厚度后對(duì)測(cè)量物進(jìn)行測(cè)量)

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    • 非接觸激光測(cè)振儀
      非接觸激光測(cè)振儀

      非接觸激光測(cè)振儀是一套高精度的振動(dòng)測(cè)量設(shè)備,該儀器采用基于多普勒原理的激光振動(dòng)測(cè)量技術(shù),地測(cè)量振動(dòng)和聲學(xué)信號(hào),包括位移、速度和加速度。利用自行研發(fā)的超速數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(ultaDSP)確保了測(cè)量的高...

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    • 激光測(cè)振儀
      激光測(cè)振儀

      V100激光測(cè)振儀不需要在被測(cè)物體上安裝傳感器,只需對(duì)針測(cè)量點(diǎn),對(duì)發(fā)射激光及接受激光進(jìn)行特殊技術(shù)處理,測(cè)量被測(cè)物體的振動(dòng)數(shù)據(jù),特別適用于機(jī)器零部件,航天、航空、超聲、汽車電子元器件等微小物品振動(dòng)測(cè)量。

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